Лекция 1.1. Метрология, основные понятия и принципы | Нанометрология — АСУ ТП: сообщество инженеров

Лекция 1.1. Метрология, основные понятия и принципы | Нанометрология

Метрология, основные понятия и принципы. Лекция 1.1 | Курс: Нанометрология | Лектор: Юрий Токунов | Организатор: Электронное образование для наноин…

Оставьте комментарий

Войти

Зарегистрироваться

Сбросить пароль

Пожалуйста, введите ваше имя пользователя или эл. адрес, вы получите письмо со ссылкой для сброса пароля.

Прокрутить вверх